XRF測(cè)試儀，全稱(chēng)為X射線熒光光譜儀，是一種高精度的材料分析工具。它利用X射線照射樣本，激發(fā)出樣本中的電子和原子核，產(chǎn)生出多種波長(zhǎng)的輻射，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)樣本的化學(xué)成分分析。這種儀器在多個(gè)領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用，如環(huán)境監(jiān)測(cè)、材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、醫(yī)學(xué)等。